Компания Intel стала одним из первых получателей литографических сканеров ASML класса High-NA EUV, позволяющих наладить выпуск чипов по нормам тоньше 2 нм, но если ранее это были системы первого поколения, пригодные главным образом для экспериментов, то недавно завершились приёмочные испытания Twinscan EXE:5200B — сканера, который будет использоваться в серийном производстве чипов.

Intel успешно испытала передовой сканер ASML, который позволит серийно выпускать ангстремные чипы

HUAWEI XMAGE 2025: мобильная фотография как полноценное окно в мир искусства

Intel успешно испытала передовой сканер ASML, который позволит серийно выпускать ангстремные чипы

HUAWEI FreeBuds 7i: ставка на глубину

Intel успешно испытала передовой сканер ASML, который позволит серийно выпускать ангстремные чипы

Российские итоги HUAWEI XMAGE 2025 и выставка «Фото[графическое] путешествие»

Intel успешно испытала передовой сканер ASML, который позволит серийно выпускать ангстремные чипы

На 3DNews началось голосование за лучшую игру 2025 года

Intel успешно испытала передовой сканер ASML, который позволит серийно выпускать ангстремные чипы

Смартфон HUAWEI Pura 80 Pro как универсальный инструмент тревел-фотографа

Intel успешно испытала передовой сканер ASML, который позволит серийно выпускать ангстремные чипы

Видеообзор смартфона Honor X9d

Intel успешно испытала передовой сканер ASML, который позволит серийно выпускать ангстремные чипы

Пять причин полюбить HONOR Magic 7

Intel успешно испытала передовой сканер ASML, который позволит серийно выпускать ангстремные чипы

Процессоры за 30 тысяч рублей — большой сравнительный тест

Intel успешно испытала передовой сканер ASML, который позволит серийно выпускать ангстремные чипы

Топ-10 смартфонов до 20 тысяч рублей (2025 год)

Intel успешно испытала передовой сканер ASML, который позволит серийно выпускать ангстремные чипы

Новой системе свойственно высокое разрешение, проверенное ещё на предшественнике (Twinscan EXE:5000), но производительность обработки кремниевых пластин повышена до 175 штук в час, а точность наложения слоёв при экспозиции увеличена до 0,7 нанометра. Оборудование ASML для сверхжёсткой ультрафиолетовой литографии с высокой числовой апертурой (High-NA EUV) тестировалось компанией Intel с 2023 года, но модель Twinscan EXE:5200B обеспечивает ряд преимуществ по сравнению с ранними образцами.

Более мощный источник лазерного излучения обеспечивает создание более контрастных проекций с более чёткими очертаниями будущих транзисторов. Новая конструкция держателя для кремниевых пластин учитывает особенности техпроцесса их обработки, повышая пропускную способность в условиях массового производства. Возросшая точность наложения была достигнута за счёт лучшей калибровки датчиков, стабильности основания и изоляции от окружающих воздействий.

Оборудование нового поколения позволяет сократить количество операций при изготовлении передовых чипов, уменьшить затраты на оснастку и поднять производительность линии. Само собой, уровень брака должен выходить на приемлемый уровень быстрее, чем в случае с оборудованием предыдущего поколения.

Попутно представители Intel сообщили о прогрессе в сфере внедрения новых материалов при производстве чипов с мельчайшими транзисторами. Дихалькогениды переходных металлов, по их словам, позволяют создавать структуры размером с несколько атомов кремния без угрозы потери необходимых физических свойств. В сфере совершенствования двумерных материалов Intel активно сотрудничает с Imec — ведущей европейской исследовательской организацией. Партнёры добиваются определённого прогресса во внедрении новых материалов, применение которых возможно и целесообразно в условиях массового производства с типоразмером кремниевых пластин 300 мм.

В свою очередь, ASML планирует наладить массовые поставки оборудования класса High-NA EUV с 2027 года, но для этого уже в следующем году компании придётся плотно взаимодействовать в этой сфере со своими клиентами. В следующем десятилетии ASML предложит технологию Hyper-NA, которая обещает ещё более эффективное масштабирование транзисторов на поверхности чипа и сохранение приемлемых темпов роста производительности полупроводниковых компонентов.